การศึกษาสมบัติของวัสดุแผ่นปิดหลังแผงเซลล์แสงอาทิตย์ด้วยวิธีการทดสอบความชื้น The Study of Back Sheet Material Properties Using Damp Heat Testing Method

Main Article Content

สันติ มั่นคง
สมชัย หิรัญวโรดม

Abstract

บทความนี้นำเสนอการศึกษาสมบัติของวัสดุแผ่นปิดด้านหลังเซลล์แสงอาทิตย์ (Back-Sheet - BS) ชนิดผลึกซิลิกอน (Crystalline Silicon) ด้วยวิธีการทดสอบร้อนชื้น (Damp Heat Testing) วัตถุประสงค์เพื่อเปรียบเทียบสมบัติป้องกันความชื้นของวัสดุแผ่นปิดด้านหลังที่ใช้เคลือบแผงเซลล์แสงอาทิตย์ในอุตสาหกรรมคือ BS-A และ BS-B โดยพิจารณาสมบัติของวัสดุแผ่นปิดด้านหลังจากการเปลี่ยนแปลงทางกายภาพและลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าของเซลล์จากผลการทดสอบร้อนชื้นของแผงเซลล์แสงอาทิตย์พบว่า ตัวอย่างที่ใช้วัสดุแผ่นปิดด้านหลัง BS-A ไม่มีการเปลี่ยนแปลงทางกายภาพของเซลล์ ส่วนลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าของแผงเซลล์ลดลงเล็กน้อยโดยค่ากำลังไฟฟ้าสูงสุดประสิทธิภาพขอแผงเซลล์ลดลงคิดเป็นร้อยละ 1.14 และ 0.2 ตามลำดับ ส่วนตัวอย่างที่ใช้วัสดุแผ่นปิดด้านหลัง BS-B พบว่าเส้นโลหะฟิงเกอร์ (Fingers) บนแผ่นเซลล์เปลี่ยนจากสีขาวเป็น สีน้ำตาลแดง ซึ่งทำให้ค่ากำลังไฟฟ้าสูงสุดและประสิทธิภาพของแผงเซลล์ลดลงคิดเป็นร้อยละ 6.14 และ 0.9 ตามลำดับ จากผลการศึกษาการทดสอบครั้งนี้พบว่า สมบัติของวัสดุแผ่นปิดด้านหลัง BS-A สามารถด้านทานการซึมผ่านของความชื้นเพื่อการป้องกันการเสื่อมสภาพของเซลล์ได้ดีกว่า BS-B

Article Details

Section
Articles

References

[1] Z. Xia, J.H. Wohlgemuth and D.W. Cunningham," A Lifetime Prediction of PV Encapsulant and Backsheet via Time Temperature Superposition Principle, 34 IEEE PVSC, Philadelphia Pennsylvania U.S.A., Jun 2009, p. 523-526.
[2] W. Herman and N. Bogdanski, "Outdoor Weathering of PV Modules Effects of Various Climates and Comparison with Accelerated Laboratory Testing", 37" IEEE PVSC, Washington U.S.A., Jun 2011, p. 2305-2311.
[3] G. Oreski and G.M. Wallner "Damp Heat Induced Physical Aging of PV Encapsulation Materials",12" IEEE ITHERM, Las Vegas Nevada U.S.A.,Jun 2010, p. 1-6.
[4] N. Kim, N. Park and C. Han "Developing Accelerated Life Test for Backsheet Used Between Field and Accelerated Conditions', 37" IEEE PVSC,Washington U.S.A., Jun 2011, p. 3162-3165.
[5] S. Goranti and G. Tamizhmani,"Potential Induced Degradation (PID) Study on Accelerated Stress Tested PV Modules', 37" IEEE PVSC, Washington U.S.A., Jun 2011, p. 2438-2441.
[6] P. Hacke, K. Terwilliger,S. Glick, D. Trudell, N Bosco,S. Johnston and S. Kurtz, "Test to Failure of Crytalline Silicon Module', 35t IEEE PVSC,Honolulu Hawaii U.S.A., Jun 2010, p. 244-250.
[7] K. Kanugal, "Degradation of Polyester Film Exposed to Accelerated Indoor Damp Heat Aging', 37 IEEE PVSC, Washington U.S.A., Jun 2011, p.96-100.
[8] J.W. PankowandS.H. Glick," Plasma Surface Modification of Polymer Backsheets : Origins of Future Interfacial Barrier / Backsheet Failure', 4 IEBE WCPEC, Waikoloa Hawaii U.S.A., May 2006,p. 2250-2253.
[9] D. Chianese, A. Realini, N. Cereghetti, S. Rezzonico.E.Bura, G. Friesen and A. Bemasconi," Analysis of Weathered c-Si PV Modules', 3" WCPEC,Osaka Japan, May 2003, p. 2922-2926.
[10] K, Morita, T. Inoue, H. Kato, I. Tsuda and Y. Hishikawa, "Degradation Factor Analysis of Crystalline-Si PV Modules through Long-Term Field Exposure Test", 3" WCPEC, Osaka Japan, May 2003, p. 1948-1951.